独一无二的创新 | SubpiX:先进的工业CT扫描技术

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在传统的锥束X射线工业计算机断层扫描(CT)中,X射线源用于穿透各种物体。

相当于在采集过程中,通过X射线穿过被测部件,最终到达X射线探测器并生成二维数字成像(DR)。
例如一个典型的CT图像可以由成千上万个二维图像组成,然后将其数据采集并重建生成被测部件的内部和外部三维体素(请参见图1)。

图一

了使图像的质量达到最佳,我们的X射线技术工程师在开发特定的CT技术时会考虑几个因素:包括X射线管的焦点尺寸,几何放大率,探测器尺寸和像素间距以及对比度等。

当以实现高分辨率为目标时,所有这些因素都对传统的锥束X射线CT扫描技术提出了重大挑战!
传统的锥束CT扫描技术通常可以达到足够的保真度。但是,对于那些无法通过单次CT扫描获得相对小型部件体素的应用呢?
NSI通过开发一种称为SubpiX的高级扫描技术解决了该问题。
当扫描受到给定探测器,零件尺寸或感兴趣区域的尺寸限制时,这种先进的技术允许用户在采集过程中获得更高的保真度。
SubpiX使用的运动系统会通过适当水平和垂直移动X射线探测器,从而基本上将每个像素分成4个象限,在某些情况下甚至是9个象限,以有效地使探测器单独产生的能力加倍甚至提高至三倍(见图2 )。

图二
例如,图3显示了手机中电子板的横截面,其尺寸约为138 x 67 x 7 mm。该CT检测项目的目的是确定面板上已安装组件下方的焊料一致性。

图三
在此应用程序中选择使用SubpiX可以提供更好的功能和更小细节的可见性。这项NSI专有的技术还可以显着提高空间分辨率,如图4所示。

图四
当扫描目标是利用CT成像识别增材制造(AM)零件中的微小杂质时,Subpix也展现了其明显的优势(见图5)。

图五
当我们的X射线技术工程师面临在部件上获得高保真度CT扫描的挑战时,会限制其实现的放大倍数,因此我们可以使用NSI的专利技术SubpiX。
SubpiX在采集过程中利用子像素移动,从而大大提高了图像质量。
SubpiX的优势:
更高的总体分辨率
更好的 SNR 和 CNR 值
提供给定分辨率下更大范围的视野
允许在以前需要微聚焦的地方使用微聚焦管
焦斑越大,产生的光子越多,因此帧率更高,采集的速度也更快。
NSI efX 软件 - SubpiX vs 标准X射线扫描


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